W dniach 26–28 października 2026 r. dr inż. Ryszard Janas, wykładowca Karkonoskiej Akademii Nauk Stosowanych, uczestniczył w Międzynarodowej Konferencji Metrologicznej „New Trends in Metrology 2026”, która odbyła się w Kielcach.

Wydarzenie zostało zorganizowane przez Polską Unię Metrologiczną przy współudziale przedstawicieli środowiska naukowego, instytucji badawczych oraz przemysłu. Program konferencji obejmował liczne sesje plenarne i tematyczne poświęcone współczesnym kierunkom rozwoju metrologii, nowoczesnym technologiom pomiarowym, analizie niepewności pomiarów, automatyzacji procesów przemysłowych oraz zastosowaniom sztucznej inteligencji w systemach pomiarowych.

Wśród szczególnie interesujących zagadnień znalazły się metrologia w gospodarce wodorowej, nowoczesne radary pasywne, technologie optyczne, monitorowanie maszyn CNC w czasie rzeczywistym oraz wykorzystanie rozszerzonej rzeczywistości i sztucznej inteligencji w procesach kontroli jakości.

Cennym elementem programu była również prezentacja rozwiązań stosowanych przez przedsiębiorstwa przemysłowe i laboratoria badawcze, a także możliwość zapoznania się z działalnością Głównego Urzędu Miar oraz nowoczesnych laboratoriów pomiarowych.

Udział w konferencji pozwolił na poszerzenie wiedzy na temat najnowszych trendów w metrologii oraz zapoznanie się z aktualnymi kierunkami badań naukowych i wdrożeń przemysłowych. Zdobyte informacje mogą zostać wykorzystane w działalności dydaktycznej prowadzonej w Karkonoskiej Akademii Nauk Stosowanych w Jeleniej Górze, szczególnie podczas zajęć związanych z automatyką, systemami pomiarowymi, kontrolą jakości oraz nowoczesnymi technologiami przemysłowymi.

Konferencja stworzyła także okazję do wymiany doświadczeń i nawiązania kontaktów z przedstawicielami krajowych oraz zagranicznych ośrodków naukowych i przedsiębiorstw działających w obszarze metrologii.

Udział w wydarzeniu stanowił wartościowy element rozwoju zawodowego wykładowcy oraz przyczynił się do promocji Karkonoskiej Akademii Nauk Stosowanych w środowisku naukowym i technicznym.